光伏(fu)組(zu)件(jian)PID效(xiao)應(ying)是(shi)什么意思？提(ti)及(ji)光伏(fu)組(zu)件(jian)，必然要(yao)注意其兩大效(xiao)應(ying)，一(yi)個是(shi)熱斑(ban)效(xiao)應(ying)，一(yi)個是(shi)PID效(xiao)應(ying)，那么，光伏(fu)PID效(xiao)應(ying)是(shi)什么？

PID的(de)英文全稱是：Potential Induced Degradation，即電(dian)勢(shi)誘導衰減。

2005年美國SunPower公司首(shou)次(ci)發現并提出PID效應，指組件長期(qi)在高電(dian)壓(ya)工作，在蓋板玻(bo)璃、封(feng)裝材料、邊(bian)框之間(jian)存(cun)在漏電(dian)流(liu)，大量電(dian)荷(he)聚集在電(dian)池片表面，使得(de)電(dian)池片表面的鈍化效果惡化，導致(zhi)填充(chong)因子(zi)、短路電(dian)流(liu)、開路電(dian)壓(ya)降低(di)，使組件性能低(di)于(yu)設(she)計標準，但此(ci)衰減(jian)是可逆的。

也有研究(jiu)發現并對(dui)PID效應作出(chu)解釋：光伏組件在受到負(fu)偏壓時，由漏電(dian)(dian)(dian)(dian)流陽極(ji)離子(zi)（一般為(wei)Na離子(zi)）流入電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)片，降低電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)并聯電(dian)(dian)(dian)(dian)阻。即，半導體(ti)內出(chu)現了雜質(zhi)，這些雜質(zhi)會形成電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)內部(bu)的(de)導電(dian)(dian)(dian)(dian)通道，降低了組件的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流輸出(chu)。

第三種產生光伏組(zu)件(jian)PID效應(ying)的原因是(shi)：光伏組(zu)件(jian)的邊緣部分容易有水氣(qi)進(jin)入，EVA發生水解后會(hui)生成醋(cu)酸，醋(cu)酸和玻(bo)璃中的Na反應(ying)，可以生成大量的自由移動的Na離(li)子，會(hui)與電池片表面的銀柵線發生反應(ying)，從而腐蝕電池柵線，導致(zhi)串聯電阻的升高，導致(zhi)組(zu)件(jian)性能衰(shuai)減(jian)，此類(lei)衰(shuai)減(jian)不可恢復。

可(ke)知(zhi)，光伏組件PID效應形成的原因(yin)主要有(you)兩(liang)類(lei)：

1.原PN結電(dian)場(chang)情況改變(bian)，或存在其它的電(dian)流通道，造成實際(ji)流過PN結的光生電(dian)流減小(xiao)；

2.器(qi)件受到離子遷(qian)移的(de)影(ying)響，材料(liao)性能發生(sheng)了不可(ke)恢復的(de)變化，和原始制造出(chu)的(de)組件相比，輸出(chu)功(gong)率變小。

目(mu)前，根(gen)據光伏組件PID效應產生(sheng)原因(yin)(yin)，盡(jin)管可分(fen)別從電(dian)(dian)池(chi)、組件和系統(tong)端減弱(ruo)或避免PID，但PID效應的影響最終還是體現(xian)在電(dian)(dian)池(chi)片上(shang)。因(yin)(yin)此，建(jian)議電(dian)(dian)池(chi)廠家對產品進行更全方(fang)位的研究，上(shang)下(xia)游結合，整體考慮性價比(bi)高的解決方(fang)案(an)。

萊科斯（LAILX）致力于光伏檢測設備的研發與生產，現有設備包括 EL檢測系列，便(bian)攜式(shi)EL檢(jian)測儀(yi)，組串式(shi)EL檢(jian)測儀(yi)，無人機(ji)EL測試(shi)儀(yi)，IV功率測試(shi)系列，便(bian)攜式(shi)IV測試(shi)儀(yi)，電能質量分析(xi)儀(yi)，等相關光(guang)伏電站檢(jian)測設備與光(guang)伏產線實驗(yan)室(shi)檢(jian)測設備，